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原標題:重慶理工大學獲兩項國際發明專利授權本報訊 （記者 李星婷）4月13日，市教委發布消息，重慶理工大學日前在日本獲得兩項國際發明專利授權。這兩項納米級的精度測量專利，對提高高端製造裝備的精密技術有極大幫助。 據悉，重慶理工大學通過PCT（Patent Cooperation Treaty）途徑申請、在日本獲得授權的這兩項國際發明專利，為「電場式時柵角位移感測器」和「基於單排多層結構的電場式時柵直線位移感測器」。 這是重慶理工大學機械工程學院劉小康、彭東林教授帶領的研究團隊，在2011年針對高檔數控機床、極大規模集成電路專用設備和國防軍工等領域，提出「利用時間上的時刻比較來實現位移測量」，即利用時間尺度提高空間尺度的測量精度和分辨力，研發出可分別實現角度、長度精密測量的「納米時柵位移感測器」。該產品突破了目前納米測量技術國際領域普遍存在的幾個基礎性共性難題，對提高精密高端製造裝備的工藝技術有極大幫助。 「國際PCT發明專利是專利領域的一項國際合作條約。」劉小康教授表示，此次授權為今後產品的產業化和國際化打下了良好基礎。