原子內部電場首次在顯微鏡下現形

科技日報東京6月7日電 （記者陳超）日本東京大學柴田直哉准教授領導的研究小組，利用目前最先進的掃描透射電子顯微鏡（STEM）和多分區檢測器，首次成功觀測到金原子內部電場的分佈情況——該電場分佈在原子核與電子云之間不到0.1納米的區域內。最新成果對觀察原子內部精密結構極為重要，使未來直接觀察原子間如何結合成為可能。

掃描透射電子顯微鏡電子探針的大小決定對影像的分辨能力，目前最先進鏡片技術的影像分辨力可達0.05納米以下。電子探針可以檢測出由原子產生的散射信號，因此可實現原子可視化。儘管到目前為止，電子顯微鏡可觀測到原子，但直接觀察原子內部結構（原子核及電子云）卻極為困難。

研究小組使用分辨能力達0.05納米以下的掃描透射電子顯微鏡和他們開發的多分區檢測器，對一個金原子內部進行觀測，結果發現，在帶正電荷的原子核與帶負電荷的電子云之間電場的影響下，電子束的行進角度和位置發生了變化，從而直接觀察到了原子內部的電場分佈，成功捕捉到了原子內部電場從原子核向電子云方向涌動的情形。

目前，電子顯微鏡廣泛應用於物理化學、電子信息工程學、材料科學、生命科學等尖端基礎研究領域；也在半導體設備、醫療、信息通信、能源等產業「大顯身手」。提高電子顯微鏡的性能，對納米技術研究尤為重要。該研究小組的下一步計劃是，挑戰直接觀察原子間如何聯繫結合這一難題。

該成果發表在近日出版的《自然·通訊》網路版上。